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生长纹测试仪
生长纹测试仪的原理是基于纹影法。通常在难以可视化的透明固体、气体、液体中，光的折射率也因密度梯度而异。这是一种将折射率的细微变化变成大的明暗差来观测的装置。
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生长纹测试仪 产品介绍
中文名 生长纹测试仪
英文 Crystal Growth Striation Measurement
测试原理
生长纹测试仪的原理是基于纹影法。通常在难以可视化的透明固体、气体、液体中，光的折射率也因密度梯度而异。这是一种将折射率的细微变化变成大的明暗差来观测的装置。透明气体、液体和固体中的不均匀状态作为密度梯度，通过的光可以弯曲。纹影法是利用折射率（光的前进方向）的变化可视化的光学观测方法。
工作原理是将点光源的光经过透镜后形成平行光束，在放入被测物后将光束聚焦，并将刀片放置在其焦点上。如果将该刀片边缘缩小到适当的视野中，则向接近刃的方向折射的部分较暗，离得远的地方会变亮。由此，被测量物的密度分布被观察为明暗对比度。
设备外观图
应用领域
● 晶体生长研究：可用于晶体生长纹路观察与分析，研究晶体生长的关键参数，对于优化晶体性能和材料研究具有重要意义。
● 质量控制：应用于晶体生长的质量控制，评估晶体的质量、纯度以及缺陷情况，对于优化晶体生长工艺、提高晶体质量和性能具有重要意义。
产品参数
产品名称
生长纹测量仪
产品型号
SI-50
照明种类
OSRAM 12 V, 50W
冷却方式
风扇强制空冷
输入电压
AC 220V
频率
50/60 Hz
耗电
约60 W
温度
10~35 ℃
湿度
30~80 % RH
观测样品尺寸
约φ 50 mm
整机尺寸
255（w）×387（h）×610（d）mm3
含样品观测台、固定支架
测试实例
晶体切片生长纹观察
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