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光热共路干涉弱吸收仪（简称：PCI弱吸收仪）
- PCI弱吸收仪基于表面热透镜效应，由泵浦光路和探测光路组成。探测光为微弱光束且在透射过样品时不产生热吸收，泵浦光为较强光束且照射样品时，使样品产生热包。探测光经过热包区域时，传播路径和相位发生变化，在两束光的交叠区域，产生干涉效应。这一微弱的变化信号通过光电探测器采集，锁相放大器分析处理后，由软件计算显示吸收结果。
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测量原理：
Photothermal Common-Path Interferometer光热共路干涉弱吸收仪简称PCI弱吸收仪。PCI弱吸收仪基于表面热透镜效应，由泵浦光路和探测光路组成。探测光为微弱光束且在透射过样品时不产生热吸收，泵浦光为较强光束且照射样品时，使样品产生热包。探测光经过热包区域时，传播路径和相位发生变化，在两束光的交叠区域，产生干涉效应。这一微弱的变化信号通过光电探测器采集，锁相放大器分析处理后，由软件计算显示吸收结果。
产品参数：
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测试波长 |
1064nm、532nm、355nm， 或其他定制波长 |
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测量精度 |
1ppm |
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样品尺寸规格 |
圆形、方形均可 最小尺寸：2x2x2mm 最大尺寸：50x50x50mm |
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测试速度 |
膜吸收＜1min 体吸收：2min（6mm厚度） |
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软件功能 |
区分体、面吸收 一维测试 二维扫描测试 时间扫描，可观测吸收随时间的变化关系 |
配置说明：
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PCI弱吸收仪 外观尺寸 |
1000mmx700mmx435mm 注：具体尺寸以实际产品为主 |
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光源 |
Probe光源 He-Ne激光器 波长：632.8nm 输出功率：2mW 偏振：500:1 光束发散角：1.3mrad Pump光源 1064nm光纤激光器（或其他定制波长） 输出功率：20W 功率稳定性：＜2% 光束质量：M2≤1.3 偏振：随机 冷却方式：风冷 |
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探测系统 |
含光电探测器、锁相放大器、斩波器、功率计等 |
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载物台 |
含步进电机、样品支架等 |
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光学配件 |
选用福晶科技优质光学元件（含聚焦透镜、反射镜等） |
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软件 |
区分体、面吸收，实时数据采集，支持自动保存、离线查看数据等 一维测试 二维扫描测试 时间扫描，可观测样品吸收随时间变化关系 |
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其他 |
高精密光学仪器，安装环境建议使用超净间 |
应用领域：
光学、晶体材料吸收
光学薄膜吸收
表面缺陷分析(抛光、镀膜工艺辅助改善、胶合/键合质量分析等)
测试实例：
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KTP |
TGG |
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薄膜吸收 |
二维码扫描 |
我们的优势：
福晶科技深耕光学领域三十多年，持续制造生产优质的激光光学元件。同时福晶科技是国内最早引进PCI弱吸收仪设备的企业，具备丰富的产品实测经验和资深的设备搭建能力。我们可以以最优的价格选配最佳的光学元件，并根据客户需求，制定最佳的PCI弱吸收仪研制方案。
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