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PLI弱吸收测试仪
PLI弱吸收测试仪（Photothermal-Lensing Absorption Measuring Instrument）是一款基于表面热透镜效应设计，对激光光学元件的弱吸收具有很高的灵敏度的测试仪器。

产品描述

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PLI弱吸收测试仪

中文名 PLI弱吸收测试仪

英文 Photothermal-Lensing Absorption Measuring Instrument （PLI）

产品原理

PLI弱吸收测试仪（Photothermal-Lensing Absorption Measuring Instrument）是一款基于表面热透镜效应设计，对激光光学元件的弱吸收具有很高的灵敏度的测量仪器。

使用一束泵浦光辐照样品，由于吸收激光束能量，样品内部产生热量，形成了一定的温度分布，产生表面形变或体内折射率梯度分布，形成了一个类似于透镜的效果。用另一束探测激光光束检测被测样品表面形变或者折射率梯度变化，从光电探测器收集到的信号变化经锁相放大器处理，提取出与吸收相关的信息。通过对光热信号幅值标定和软件计算，最终可以得到被测样品的吸收值。

基于以上原理，推出的福晶PLI 100弱吸收测试仪，具有以下特点：

● 选用福晶科技优质光学元件，以最优的价格选配最佳的光学元件，提升PLI系统性能

● 功能丰富的测量软件集成了各组成系统的控制，直观易用的操作页面可在过程中同步观察测量结果

● 可根据需求定制多泵浦光源的检测系统，实现一维、二维吸收及分布的测量

产品参数

光源	泵浦光源：1064 nm、532 nm、355 nm，或其他定制波长探测光源：He-Ne 激光
测量精度	1 ppm
样品尺寸	最小尺寸：2 x 2 x 2 mm³ 最大尺寸：50 x 50 x 50 mm³ 圆形、方形样品均适用
测试速度	薄膜吸收＜1min 基体吸收~2min（6mm厚度）
测量功能	一维深度逐点扫描二维吸收分布扫描一次性进行表面（膜层）吸收和体（基板）吸收的区分测量时间扫描，可观测吸收随时间的变化关系可根据需求定制单、双、三测量通道
电源要求	100-240 VAC，50/60 Hz
产品尺寸 (L×W×H)	主机 960×635×380 mm³ 机柜 835×550×700 mm³
注意事项	高精密光学仪器，建议在稳定的光学平台上使用，安装在超净间环境使用时，请佩戴激光防护眼镜，保障实验室与操作人员安全

应用领域

● 可应用于光学、晶体材料吸收、光学薄膜吸收、表面缺陷分析（抛光、镀膜工艺辅助改善、胶合/键合质量分析等）

测试实例

Nd:YVO₄晶体基体吸收

LBO晶体基体吸收

KTP晶体基体吸收

TGG晶体基体吸收

薄膜吸收

二维扫描实例

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